天溯计量：公司研制了《半导体集成电路制造台阶高度测试仪校准规范》等9项校准规范

　　讯1月30日，天溯计量在互动平台回答投资者提问时表示，在新一代电子信息产业，公司研制了《半导体集成电路制造台阶高度测试仪校准规范》等9项校准规范，弥补了部分战略性新兴产业细分领域标准与规范缺失的空白。其中，公司研发编制的《半导体集成电路制造晶圆表面颗粒测试仪校准规范TSZJ78》，获得了CNAS认可，解决了行业该类设备纳米级精度计量校准的难题。