9月1日，据财闻海外资讯，汉努尔半导体（881121）宣布，其搭载AI的MLCC六面全外观检测设备实现每分钟13000件的检测速度，不良品检出准确率达98%，较原有约95%提升3个百分点。该设备可高速输送拍摄约0.6mm×0.3M（MMM）m超小型MLCC，识别微裂纹、崩缺、异物及电极异常等缺陷。设备搭载自研AI检测平台HawAle(哈瓦伊)与AI分析引擎AlohaNet(阿罗哈网)，传统图像处理与AI协同检测，并采用端侧AI技术本地处理数据，采集数据可持续训练模型提升精度。
目前该性能指标正接受第三方机构实测评估，后续将依据评测结果面向海内外MLCC制造企业开展设备测评与市场推广。公司计划年内把检测速度进一步提升至每分钟15000件，扩大HawAle平台落地范围，并将AI检测技术陆续导入MLCC综合测量仪、压痕检测设备、超声无损检测设备。
