日联科技亮相NEPCON ASIA 2026

2026-10-27 23:14:06
来源:日联科技
作者:与光同行的
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问财摘要

1、日联科技在NEPCON ASIA 2026展会上展示了AI工业无损智检方案,其中多款高端智检装备同台亮相,包括精密电子智检X-RAY、半导体开管智检X-RAY、亚微米级3D/CT和高速在线3D/CT等。
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工业的发展,是一部人类感知边界不断向外延伸的历史。从通用硬件到 AI 算力,器件日趋精密,隐性缺陷潜藏于内。

无损检测穿透微观结构

守护高端电子产业链可靠运行

UNICOMP x NEPCON ASIA 2026

10月27日-29日

深圳国际会展中心(宝安新馆)

日联科技(688531)(13号馆 E55)携AI工业无损智检方案,亮相NEPCON ASIA 2026亚洲电子生产设备展,以日联智检质护电子制造研发到量产全流程。

智筑防线

多款高端智检装备同台亮相

日联以“核心零部件+多维核心算法”串联亚微米X-ray、开管CT、在线3D等核心装备,夯实技术底座。

精密电子智检X-RAY

——AX9100

以“强穿透、多角度、精准定位”的能力,解决高密度电子的虚焊、空洞、偏移等缺陷控制与爬锡高度监测等痛点问题。

半导体开管智检X-RAY

——AX9600

采用日联自研160kV开放式微聚焦X射线源,轻松完成3D封装、IC压焊等工艺中多种类缺陷检测,以及捕捉TGV和TSV工艺中微小对象的纤细细节。

亚微米级3D/CT

——AX9500

亚微米级三维断层成像,精准捕捉并识别晶圆凸块桥接、芯片冷焊、MEMS制造空洞等关键缺陷。

高速在线3D/CT

——LX9200

支持2D/2.5D/3D检测模式快速切换,完成高密度、高集成、异形化设计复杂电子模组的缺陷在线检测。

全谱系微焦点X射线源

日联射线源已构建起全尺度、穿透式质量洞察体系,为高端智检提供自主可控的核心技术支撑。

智研共探

聚力行业交流,共解智造难题

日联技术专家进行了开管核心技术、背钻检测方案、AI缺陷识别算法等多项前沿干货分享,日联资深工程师进行技术义诊、心声访谈、痛点倾听等客户关怀活动,一站式治愈电子智造质控焦虑!

未来,日联科技(688531)将持续以平台化智检服务赋能AI 算力、先进封装(886009)、人形机器人(886069)等前沿产业,与行业客户共筑高端电子智造品质防线。

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